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Sapphire熱流型差示掃描量熱儀

簡要描述:采用熱流型設(shè)計原理,其結(jié)構(gòu)精致而簡單,操作方便,性能*。對于質(zhì)量控制和材料研究Z為理想。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-05-07
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詳細(xì)介紹

Sapphire熱流型差示掃描量熱儀

      采用熱流型設(shè)計原理,其結(jié)構(gòu)精致而簡單,操作方便,性能*。對于質(zhì)量控制和材料研究zui為理想。可用于測量材料的熔點、玻璃化溫度、結(jié)晶度、固化度、純度、比熱、反應(yīng)動力學(xué)、熱穩(wěn)定性、相轉(zhuǎn)變溫度等參數(shù)。
產(chǎn)品特點
·采用保護(hù)的橢圓形量熱傳感器
·爐體堅固耐用,抗腐蝕性強
·DSC基線及其平穩(wěn)
·具有*的Highway TA熱分析模擬軟件可供選擇
·具有多種冷卻附件可供選擇
·可選配樣品自動進(jìn)樣器

·溫度范圍:-170--725゜C(樣品實際能夠達(dá)到的測試溫度)
·溫度準(zhǔn)確度:±0.1゜C
·溫度精度:±0.02゜C
·量熱準(zhǔn)確度:± 1%
·量熱精度:±0.5%
·掃描速率:0.01-100゜C/min

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