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GFM 便攜式三維光學缺陷階差測量儀

簡要描述:GFM 便攜式三維光學缺陷階差測量儀,精確、快速、便攜。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-05-09
  • 訪  問  量:921

詳細介紹

品牌其他品牌產地類別進口
應用領域食品,化工,石油,能源,電子

GFM 便攜式三維光學缺陷階差測量儀

精確、快速、便攜


應用領域:

金屬,復合材料,織物等材質表面的劃痕,裂紋,磨損,刮擦、凹坑、鑿擊、腐蝕等表面缺陷的現場檢測和分析;

鉚接,焊接,接縫等階差和凹凸量的三維檢測;三維面粗糙度測量分析;

劃窩孔,槽深,圓弧,倒角等幾何尺寸測量; 


測量原理:

德國GFM公司基于激光條紋相位投影技術和DSP高速圖像處理芯片研制的便攜式三維光學表面劃痕測量儀,用于現場表面質量特性的檢測,具有測量速度快,測量準確,便攜性等優點。       




儀器特點:

便攜式現場檢測大型零件表面劃痕缺陷,階差等表面幾何特性參數;

三維測量表面劃痕缺陷,通過拓撲色差圖直觀檢測出劃痕缺陷最深的部位;

專業的劃痕測量分析軟件,多種濾波方式:包含了多項式濾波,高斯濾波,均值濾波等,有效消除曲面輪廓,傾斜,噪音信號,毛刺,灰塵等因素對測量結果的影響;

大傾角光路設計,以及藍光LED光源,測量不受高反光曲面的影響;

SDK軟件包,開放儀器接口,可二次開發;



儀器附件 

技術參數:

測量范圍X/Y/Z

 13X8X5 mm

測量示值誤差:

 (2+L/1000)μm; L單位μm

深度方向分辨力:

 1um

聚焦距離:

 107mm

測量掃描時間:

 3秒;掃描點云:36萬點/

使用環境溫度:

 5-40°C

符合國標校準規范的計量校準溯源


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